Analytische Chemie: Eine indische Zeitschrift
ISSN (PRINT): 0974-7419

Abstrakt

Observation of flicker 1/f noise in YBa2Cu3O7 and GaAlAs diode

S.B.Ota, Smita Ota


Polycrystalline YBa2Cu3O7-x near TC (70-95 K) and GaAlAs semiconductor diode in the temperature range 50-300 K has been studied. The measured dc voltages in these systems show fluctuations and the standard deviations of the voltage values show the statistics of flicker 1/f noise. In YBa2Cu3O7-x the measured dc voltages showed increased noise near TC which is possibly related to the 1/f noise due to the motion of vortex lattice. The 1/f noise in GaAlAS diode is found to be temperature independent but current dependent. It is found to increase with decrease in forward current below 0.01 mA.


Haftungsausschluss: Dieser Abstract wurde mit Hilfe von Künstlicher Intelligenz übersetzt und wurde noch nicht überprüft oder verifiziert

Indiziert in

  • CASS
  • Google Scholar
  • Öffnen Sie das J-Tor
  • Nationale Wissensinfrastruktur Chinas (CNKI)
  • CiteFactor
  • Kosmos IF
  • Elektronische Zeitschriftenbibliothek
  • Verzeichnis der Indexierung von Forschungszeitschriften (DRJI)
  • Geheime Suchmaschinenlabore
  • ICMJE

Mehr sehen

Zeitschrift ISSN

H-Index der Zeitschrift

Flyer

Open-Access-Zeitschriften